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2026-04-14 -
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产品描述
E系列增强型手动探针台是一款功能进阶级探针台，能实现 1μm 以上的电极 Pad 测试，工效学设计简单易操作，灵活的UPStart™ 模块化设计，客户可通过的成本升级更多的测试功能，如：毫米波 mmW，FA、MEMS、WLR 和光电等测试。
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X系列半自动探针台是一款专业应对各类先进芯片性能测试的综合型高效半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多功能，具有目前行业较高的温宽区和测试精度，可匹配多种测试应用环境。
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M系列小型手动探针台，简易轻便，占有空间小且移动方便。在保证测试精度的前提下，又性价比，非常适合高校教 学实验使用。如果测试器件的PAD 点大于30μm，M 系列则是其中的主选设备之一。
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传真：86-0755-21088076
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