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  • X系列半自动探针台
    X系列半自动探针台

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2026-04-14

    浏览次数

    91

    产品描述

    X系列半自动探针台是一款专业应对各类先进芯片性能测试的综合型高效半自动晶圆探针台,集成了电学、光波、微波等多功能,具有目前行业较高的温宽区和测试精度,可匹配多种测试应用环境。
  • M系列小型手动探针台
    M系列小型手动探针台

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2026-04-14

    浏览次数

    128

    产品描述

    M系列小型手动探针台,简易轻便,占有空间小且移动方便。在保证测试精度的前提下,又性价比,非常适合高校教 学实验使用。如果测试器件的PAD 点大于30μm,M 系列则是其中的主选设备之一。
  • DPT1000A 功率器件动态参数测试系统
    DPT1000A 功率器件动态参数测试系统

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2026-03-13

    浏览次数

    101

    产品描述

    DPT1000A 功率器件动态参数测试系统专门用于针对三代半导体功率器件的动态特性分析测试,泰克与系统商一起共同解决客户在功率器件动态特性表征中常见的疑难问题。
  • 半导体参数测试系统B1506A
    半导体参数测试系统B1506A

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2026-03-25

    浏览次数

    129

    产品描述

    半导体参数测试系统B1506A是一款用于电路设计的综合解决方案,可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件,让其电力电子产品发挥最大价值。 它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数,包括 IV 参数(击穿电压和导通电阻)、三端 FET 电容、栅极电荷和功率损耗。 用于电路设计的 B1506A 功率器件分析仪/曲线追踪仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。
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