简要描述：半导体参数测试系统B1506A是一款用于电路设计的综合解决方案，可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥最大价值。 它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数，包括 IV 参数（击穿电压和导通电阻）、三端 FET 电容、栅极电荷和功率损耗。 用于电路设计的 B1506A 功率器件分析仪/曲线追踪仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。

通过全面的功率器件表征确保您的电路设计一次成功

半导体参数测试系统B1506A是一款用于电路设计的综合解决方案，可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥价值。 它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数，包括 IV 参数（击穿电压和导通电阻）、三端 FET 电容、栅极电荷和功率损耗。 用于电路设计的 B1506A 功率器件分析仪/曲线追踪仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。

B1506A 的常规特性

• 高达 3 kV/1500 A 的宽广工作范围

• 从 -50 °C 到 +250 °C 的全自动快速热测试

• 自动创建功率器件（半导体和元器件）的技术资料

• 自动记录功能可防止数据丢失

B1506A IV 套件特性

• 可对封装和晶圆上器件进行全自动快速 IV 测量（Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等）

• 窄 IV 脉冲宽度（最窄 10 μs）可防止器件自发热，更准确地测试器件实际性能

• 示波器视图（时域视图）可以监测实际电压/电流脉冲波形，以便进行准确测量

• 配置可以灵活扩展，添加 CV 和 Qg，将电流范围从 20 A 扩展到 500 A 或 1500 A

B1506A 套件的完整特性

• IV 套件的全部特性

• 测量封装器件在 3 kV 时的晶体管输入、输出和反向传输电容（Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres）以及栅极电阻（Rg）

• 测量封装器件的栅极电荷（Qg）曲线

• 计算功率损耗（传导、驱动和开关损耗）

半导体参数测试系统B1506A

具有丰富的功能，有助于在实际电路工作条件下发现不合格器件，这类工作条件包括宽广的电压和电流范围（3 kV 和 1500 A）、宽广的温度测量范围（-50 °C 至 +250 °C）、快速脉冲生成能力和 nA 级以下的电流测量分辨率。 其独特的软件界面采用了用户十分熟悉的器件技术资料格式，因此用户无需任何正式培训即可轻松表征器件。 测试夹具内的集成开关电路支持全自动测试，能够在高电压测试与大电流测试之间，以及 IV 和 CV 测量之间自动切换。

此外，独特的插入式器件测试夹具插座适配器可避免电缆连接和其他人为误差。 B1506A 还支持全自动热表征。 这一操作可通过集成的 Thermostream 控件或 Thermal Plate 完成。 由于被测器件非常接近 B1506A 的测量资源，因此不存在由气候室电缆延伸段引起的大寄生效应。

有鉴于此，您可以在低温和高温条件下准确评估高达 1500 A 的无振荡超大电流。B1506A 有助于您充分发挥最终产品的价值并加快产品开发，从而转变电力电子电路设计。

IV 套件（H20、H50、H70）的价格与那些传统的曲线追踪仪差不多。使用 B1506A，您可以获得更多的特性。 您也可以升级任何 B1506A IV 套件（H20、H50、H70）来增加电流量程，或者添加 CV/Qg 测量功能（选件 H21、H51、H71）。

B1506A IV 套件

• B1506A-H20 20 A / 3 kV IV 测量

• B1506A-H50 500 A / 3 kV IV 测量

• B1506A-H70 1500 A / 3 kV IV 测量

B1506A 完整套件

• B1506A-H21 20 A / 3 kV IV、C-V 和栅极电荷测量

• B1506A-H51 500 A / 3 kV IV、C-V 和栅极电荷测量

• B1506A-H71 1500 A / 3 kV IV、C-V 和栅极电荷测量